2M誤碼儀實用操作及保養(yǎng)說明
一、規(guī)格說明
1.前面板、狀態(tài)告警指示燈
2.液晶顯示器
液晶顯示器分為三個部分,如上圖所示。
3.按鍵
二、常見技術(shù)指標
比特率:2048Kb/s ± 50ppm
接口:標配75ohm, 高阻,選配:120ohm
輸入靈敏度:0 ~ - 43dB
線路編碼:HDB3
幀型:無幀,P31,P31C,P30,P30C
內(nèi)部測試序列:偽隨機序列: 211-1(PR11), 215-1(PR15)
固定碼: 0000(SPACE),1111(MARK),1010(ALT)
告警檢測和插入:LOS, AIS,LOF, RA
誤碼插入:Single, 10E-3, 10E-6
測試標準:G.821,G.826,M.2100
單時隙監(jiān)聽:除Ts0外任意單個時隙
時鐘源選擇:內(nèi)部時鐘(Internal),接收回復(fù)時鐘(Receive)
存儲:99條
電源:4節(jié)5號電池或外接電源
尺寸:200mm(L) * 100mm(W) * 44mm(H)
三、2M誤碼儀操作說明
1.初步操作
利用快捷鍵可以從任何界面直接進入到另一個界面;利用快捷鍵還可以完成屏幕打印、結(jié)果打印、鍵盤鎖定等功能。
任何界面中,當功能擴展鍵顯示時,按鍵,液晶顯示器的左下角會彈出快捷菜單,如圖3.2所示,再按鍵快捷菜單自動利用光標移動鍵把光標移到所需選項,按 ENTER 鍵或 F1 鍵選擇 鍵盤鎖定或直接進入測試設(shè)置、當前結(jié)果、設(shè)置存取、結(jié)果存取或儀表設(shè)置界面。
2.端口設(shè)置
2.1 Tx/Rx1/DATA端口設(shè)置
是接口方式為2Mbit/s和同向64kbit/s(接口方式為同向64kbit/s時,相應(yīng)選項自動無效)時的界面,左邊表示發(fā)送端口的設(shè)置,
右邊表示接收端口的設(shè)置,各欄代表的含義如圖2.1所示。
圖2.1 Tx/Rx1端口設(shè)置說明
圖2.2是接口方式為V.35、V.24同步、X.21、RS449時的界面,左邊表示發(fā)送端口的設(shè)置,右邊表示接收端口的設(shè)置,各欄代表的含義如圖2.3所示。
圖2.2 DATA端口設(shè)置
圖2.3DATA端口設(shè)置說明
2.1.1 測試設(shè)置界面選擇
把光標移到 界面說明 欄,可選擇上一頁、下一頁或?qū)I(yè)設(shè)置。測試設(shè)置由Tx/Rx1/DATA端口設(shè)置、Rx2端口設(shè)置、其它設(shè)置和打印設(shè)置4個界面組成。
2.1.2 工作方式
把光標移到 工作方式 欄,有以下可選項目。
常規(guī)測試: 常規(guī)方式用于誤碼、滑碼、通道內(nèi)容等測試項目。
通過測試: 選擇通過方式。
音頻測試: 選擇音頻測試方式,對所選擇時隙通路進行音頻測試(頻率、電平)。
時延測試: 選擇時延測試方式,對整個2Mbit/s通路、n×64kbit/s及V接口通路進行環(huán)路時延測試。
APS測試: 用于測試系統(tǒng)的自動保護倒換時間。
2.1.3 發(fā)送(Tx)、接收(Rx)關(guān)系
把光標移到 接收 欄,有以下可選項目。
Rx: 發(fā)送(Tx)和接收(Rx)的參數(shù)相互獨立,可以進行分別設(shè)置。
Rx=Tx: 接收(Rx)的參數(shù)與發(fā)送(Tx)的參數(shù)相同,當改變Tx時,Rx自動跟著變化。
2.1.4 接口方式
把光標移到 接口方式 欄,有以下可選項目,接收(Rx)的接口方式自動與發(fā)送(Tx)的接口方式保持一致。
2Mbit/s: 用于測試2Mbit/s數(shù)字通路
同向64k: 用于測試64kbit/s數(shù)字通路
V.35: 用于測試數(shù)據(jù)通路
V.24同步: 用于測試數(shù)據(jù)通路
X.21: 用于測試數(shù)據(jù)通路
RS449: 用于測試數(shù)據(jù)通路
2.1.5 信號形式
把光標移到Tx的 信號形式 欄,有以下可選項目。
非幀: 選擇非幀信號形式。
PCM31: 選擇31路信號形式。
PCM31CRC: 選擇31路信號形式并且?guī)в蠧RC-4校驗功能。
PCM30: 選擇30路信號形式,第16時隙用于傳送信令。
PCM30CRC: 選擇30路信號形式,第16時隙用于傳送信令并且?guī)в蠧RC-4校驗功能。
2.1.6 數(shù)據(jù)端口
把光標移到 數(shù)據(jù)端口 欄,有以下可選項目。
G.703(75Ω): 選擇75Ω非平衡接口。
G.703(120Ω): 選擇120Ω平衡接口。
2.1.7 時鐘方式
把光標移到 時鐘方式 欄,有以下可選項目。
內(nèi)部時鐘: 發(fā)端信號時鐘選擇內(nèi)部時鐘振蕩器。
時鐘提?。?發(fā)端時鐘選擇從收端輸入信號中提取的時鐘。
外部時鐘: 發(fā)端時鐘選擇外部時鐘輸入口輸入的時鐘信號,外部時鐘信號可以是2.048MHz或2.048Mbit/s信號。
2.1.8 測試圖案
把光標移到Tx的 測試圖案 欄,有以下可選項目。
2e9-1: 選擇儀表發(fā)送或接收信號中的測試圖案為2e9-1。ITU—T0.151規(guī)定的圖案。
2e11-1: 選擇儀表發(fā)送或接收信號中的測試圖案為2e11-1。
2e15-1: 選擇儀表發(fā)送或接收信號中的測試圖案為2e15-1。
WORD: 選擇儀表發(fā)送、接收信號中的測試圖案為8bit人工碼。選擇WORD后,F(xiàn)1、F2鍵分別定義為置1、置0。用或?qū)⒐鈽艘浦烈薷牡哪骋晃幌?,?F1 選擇該位置1,按 F2 選擇該位清0。
在線檢測: 用于 2Mbit/s 的誤碼在線測試, 此時Bit Error、Pattern Slip、Pattern Loss測試功能無效。
2.1.9 圖案極性
把光標移到的 圖案極性 欄,有以下可選項目。
同向: 圖案同向,接收或發(fā)送ITU—T0.151規(guī)定的圖案。
反向: 圖案反向,接收或發(fā)送ITU—T0.151規(guī)定反向的圖案。
Rx的圖案極性也可以由儀表自動搜尋。
2.1.10 信號碼型
把光標移到的 信號碼型 欄,有以下可選項目。
HDB3: 選擇HDB3,輸入輸出信號為HDB3編碼。
AMI: 選擇AMI,輸入輸出信號為AMI編碼。
2.1.11 時隙選擇
把光標移到的 時隙選擇 欄,有以下可選項目。
所有時隙: 按 F2 選擇所有時隙。信號形式為PCM30CRC或PCM30時選擇了30個時隙作為測試通道;信號形式為PCM31或PCM31CRC時選擇31個時隙作為測試通道。
n*64k: 按 F1 選擇n*64k,選擇任意時隙作為測試通道。
對時隙選擇欄進行操作后,進入時隙設(shè)置界面,如圖2.4。
圖2.4 時隙設(shè)置
時隙設(shè)置方法:
用光標移動鍵將光標移至欲選擇的時隙號下,按 F1 選擇該時隙,時隙號顯示黑色。按F2 清除該時隙,時隙號顯示反白。按 F3 選擇所有時隙,按 F4 清除所有時隙。對于選中的時隙,測試圖案被插入。
空閑時隙碼設(shè)置方法:
把光標移至空閑時隙碼要修改的某一位中,按 F1 選擇該位置1,按 F2選擇該位清0。
2.1.12 信號端口
把光標移到的 信號端口 欄,有以下可選項目。
終接: 信號輸入端口阻抗為75Ω或120Ω
橋接: 信號輸入端口阻抗為高阻。
監(jiān)測: 信號輸入端口阻抗為75Ω或120Ω并對輸入信號有26dB的增益。
2.1.13 模擬方式
把光標移到的 模擬方式 欄,有以下可選項目。
模擬DTE: 模擬DTE測試方式 模擬DCE: 模擬DCE測試方式
2.1.14 速率
把光標移到的 速率 欄,有以下可選項目。
上一速率: 速率減小 下一速率: 速率增大
2.1.15 時鐘極性
把光標移到的 時鐘極性 欄,有以下可選項目。
同向: 時鐘極性同向 反向: 時鐘極性反向
2.1.16 控制信號
把光標移到的 控制信號 欄,有以下可選項目。
接通: 選擇控制信號接通 斷開: 選擇控制信號斷開
2.2CLK/Rx2端口設(shè)置
如圖2.5所示,各欄代表的含義如圖2.6所示。
圖2.5 CLK/Rx2端口設(shè)置
圖2.6 CLK/Rx2端口設(shè)置說明
2.2.1 2M誤碼儀工作方式
把光標移到的 工作方式 欄,有以下可選項目。
時鐘輸入: CLK/Rx2端口作為外時鐘輸入口使用,此時 信號形式 、信號碼型 欄無效。
2M測試: CLK/Rx2端口作為第二個2Mbit/s測試用,可對線路進行在線測試;同時也可兼作外時鐘輸入口使用。
2.2.2 信號形式
把光標移到 信號形式 欄,有以下可選項目。
非幀: 選擇非幀信號形式。
PCM31: 選擇31路信號形式。
PCM31CRC: 選擇31路信號形式并且?guī)в蠧RC-4校驗功能。
PCM30: 選擇30路信號形式,第16時隙用于傳送信令。
PCM30CRC: 選擇30路信號形式,第16時隙用于傳送信令并且?guī)в蠧RC-4校驗功能。
2.2.3 數(shù)據(jù)端口
把光標移到 數(shù)據(jù)端口 欄,有以下可選項目。
G.703(75Ω): 選擇75Ω非平衡接口。
G.703(120Ω): 選擇120Ω平衡接口。
2.2.4 信號端口
把光標移到的 信號端口 欄,有以下可選項目。
終接: 信號輸入端口阻抗為75Ω或120Ω
橋接: 信號輸入端口阻抗為高阻。
2.2.5 信號碼型
把光標移到的 信號碼型 欄,有以下可選項目。
HDB3: 選擇HDB3,輸入輸出信號為HDB3編碼。
AMI: 選擇AMI,輸入輸出信號為AMI編碼。
3.其他設(shè)置
如圖3.1所示:
圖3.1其它設(shè)置
3.1 誤碼插入
把光標移至誤碼插入欄,可選擇以下選項:
無: 沒有任何誤碼插入。
Bit ERR: 選擇比特誤碼插入,比特誤碼插入可選擇單次或率,率的范圍為1×10-2~1×10-6。
PAT Slip:選擇圖案滑動插入,插入選擇為單次。
FAS ERR: 選擇幀誤碼插入,插入選擇為單次、連續(xù)2、連續(xù)3、連續(xù)4。
選擇誤碼插入后,若插入次數(shù)選擇為單次或連續(xù)2、連續(xù)3、連續(xù)4,則按一次 ERR INJ,就相應(yīng)插入1個或2個、3個、4個誤碼,并在狀態(tài)顯示區(qū)顯示0.5秒。若插入選擇為率,則按一次ERR INJ,誤碼插入就開始,并在狀態(tài)顯示區(qū)顯示,再按一次ERR INJ,誤碼插入停止,圖標消失。
3.2 告警插入
把光標移至告警插入欄,可選擇以下選項:
無: 沒有任何告警插入。
AIS: 選擇告警信號指示插入。
FAS Loss: 選擇幀失步告警插入。
RA: 選擇遠端幀告警插入。
MRA: 選擇遠端復(fù)幀告警插入。
3.3 頻率拉偏
把光標移至頻率拉偏欄,可選擇以下選項:
標準頻率: 恢復(fù)到標準頻率。
正拉偏: 設(shè)置頻率偏差為正值。
負拉偏: 設(shè)置頻率偏差為負值。
加1: 頻率拉偏值加上1。
減1: 頻率拉偏值減去1。
加10: 頻率拉偏值加上10。
減10: 頻率拉偏值減去10。
加100: 頻率拉偏值加上100。
減100: 頻率拉偏值減去100。
加1000: 頻率拉偏值加上1000。
減1000: 頻率拉偏值減去1000。
3.4 定時測試
把光標移至定時測試欄,可選擇以下選項:
關(guān)閉: 關(guān)閉定時測試功能。
打開: 開啟定時測試功能,并在狀態(tài)顯示區(qū)顯示。
設(shè)置: 開啟定時測試功能,設(shè)定定時測試時間,并在狀態(tài)顯示區(qū)顯示。
關(guān)機休眠: 儀表進入關(guān)機休眠狀態(tài),此時儀表關(guān)機,POWER 燈閃爍,待所設(shè)置的測試啟動時間到來時,儀表自動開機測試。
定時測試功能開啟后,在狀態(tài)顯示區(qū)會顯示,待所設(shè)置的測試啟動時間到來時,儀表自動開機測試。
3.5 測試時長
把光標移至測試時長欄,可選擇以下選項:
關(guān)閉: 關(guān)閉測試時長功能。
打開: 開啟測試時長功能。
設(shè)置: 開啟測試時長功能,設(shè)定測試時長。
測試時長功能開啟后,儀表測試到設(shè)定的時長后,會自動停止測試。
3.6自動重復(fù)
把光標移至自動重復(fù)欄,可選擇以下選項:
關(guān)閉: 關(guān)閉自動重復(fù)功能。
打開: 開啟自動重復(fù)功能。
自動重復(fù)功能開啟后,儀表測試到設(shè)定的時長后,會自動開始新的測試。
4.測試結(jié)果設(shè)置
設(shè)置測試結(jié)果: 按BE/BER鍵,屏幕中央BE后可輪換顯示“CUR”、“MAX”、“ACC”字樣,儀表當前一秒內(nèi)誤碼,最大誤碼,累計誤碼。測試時選擇“ACC”。開始/停止:按Start/Stop開始測試,屏幕右上有顯示“RUN”,再按一下Start/Stop停止測試,屏幕右上角顯示“Stop”。注意:測試時一定要求按Start,開始進行測試。
四、保養(yǎng)與維護
1.使用過程中,應(yīng)該注意收光功率問題,不能過高或者過低,否則會引起再生段誤碼及其他低階誤碼;
2.實際使用當中,需要常檢查線路板、支路板、交叉板或時鐘板,排除一些故障;
3.設(shè)備正常運行中,對長時間使用造成設(shè)備溫度過高,應(yīng)該及時降溫或者暫停;
4.日常使用之前,可以先對儀表自環(huán)檢查設(shè)置,確保設(shè)備正常。
五、常見故障及處理方法
NO Signal燈亮,表示無2M信號進入儀表或信號過弱,可能Rx、Tx接反,或設(shè)備無輸出,Rx線斷
NO Sync燈亮,表示2M業(yè)務(wù)不通,可能儀表Tx線斷或設(shè)備有問題。B
it Error亮表示設(shè)備有誤碼。AIS,設(shè)備發(fā)送AIS。
說明:可以先對儀表自環(huán)檢查設(shè)置。
---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
2M的概念和測試方法技術(shù)文檔
一、2M誤碼儀的概念
E1的一個時分復(fù)用幀(其長度T=125us)共劃 分為32相等的時隙,時隙的編號為CH0~CH31。其中時隙CH0用作幀同步用,時隙CH16用來傳送信令,剩下CH1~CH15和CH17~CH31 共30個時隙用作30個話路。每個時隙傳送8bit,因此共用256bit。每秒傳送8000個幀,因此PCM一次群E1的數(shù)據(jù)率就是 2.048Mbit/s。
一條E1是2.048M的鏈路,用PCM編碼。
一個E1的幀長為256個bit,分為32個時隙,一個時隙為8個bit。 每秒有8k個E1的幀通過接口,即8K*256=2048kbps。
每個時隙在E1幀中占8bit,8*8k=64k,即一條E1中含有32個64K。 二、2M誤碼儀幾個重要的概念
傳輸系統(tǒng)的比特錯誤(也稱之為誤碼)特性:由于傳輸系統(tǒng)傳輸?shù)男畔⒍际嵌M制的數(shù)字信號,加之傳輸系統(tǒng)受外界的影響,因此,信號從A 地傳輸?shù)紹 地產(chǎn)生錯誤是必然的。只是由于傳輸系統(tǒng)的質(zhì)量以及受外接影響程度地不同,產(chǎn)生錯誤的程度不同而已。信號從A 地傳輸?shù)紹 地產(chǎn)生的錯誤越少,表明傳輸系統(tǒng)的傳輸質(zhì)量越好。
傳輸系統(tǒng)對被傳輸?shù)男盘柮慨a(chǎn)生一個錯誤,就稱為有一個比特錯誤或稱為一個誤碼。 三、BE和BER
2M誤碼儀計數(shù)(BE)或稱比特錯誤-在測試的時間內(nèi),測試到的總錯誤數(shù)。 誤碼率(BER)或稱比特錯誤率-在測試時間內(nèi),測試到的誤碼數(shù)與已經(jīng)測試的比特數(shù)的比值。例如:儀表已經(jīng)測試的比特數(shù)為10000 個,已經(jīng)測試到的誤碼數(shù)為3 個,誤碼率=3/10000; 同樣可以表述為:1×10-4,或3E-4。
四、編碼錯誤和HDB3
由于輸出的碼型是嚴格按照正負交替(HDB3 中的“0”變“1”碼也是按照正負交替規(guī)律)的規(guī)律變換的,因此,對于檢測出的不符合正負交替規(guī)律的比特數(shù),稱之為編碼錯誤。對于傳輸系統(tǒng)的傳輸性能,編碼錯誤測試的結(jié)果遠不如比特錯誤測試的準確。
- 上一篇:以太網(wǎng)測試儀說明書 2019/9/21
- 下一篇:蓄電池測試儀-蓄電池組修理內(nèi)容 2019/9/19